[发明专利]VFET架构内的超长沟道器件有效

专利信息
申请号: 201880033250.1 申请日: 2018-05-10
公开(公告)号: CN110637367B 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: M·波尔格恩达赫尔;E·迷尔乐尔;F·L·利尔;S·特涵;程慷果;J·R·斯普瑞尔;G·卡尔维 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 边海梅
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施例针对具有超长沟道的垂直场效应晶体管(VFET)的方法和所得结构。在衬底上形成一对半导体鳍片。在衬底上的半导体鳍之间形成半导体柱。在所有半导体鳍下方和部分半导体柱下方延伸的区域掺杂。在半导体鳍片的沟道区域和半导体柱上方形成导电栅极。当栅极被激活时,半导体柱的表面用作扩展的沟道。
搜索关键词: vfet 架构 超长 沟道 器件
【主权项】:
1.一种形成半导体器件的方法,该方法包括:/n在衬底上形成一对半导体鳍片;/n在所述衬底上的半导体鳍片之间形成半导体柱;/n形成底部掺杂区,所述底部掺杂区在全部半导体鳍片下面和部分半导体柱下面延伸;以及/n在所述半导体鳍片的沟道区域和半导体柱上方形成导电栅极。/n
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