[发明专利]用于光电子器件制造的脱模层下的生长结构在审
申请号: | 201880033436.7 | 申请日: | 2018-06-15 |
公开(公告)号: | CN110915000A | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
发明(设计)人: | 安德鲁·J·里特诺尔;艾琳娜·劳;克劳迪奥·卡尼萨雷斯;洛里·D·华盛顿;布伦丹·M·凯斯;何刚 | 申请(专利权)人: | 奥塔装置公司 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/0687;H01L31/18 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 权鲜枝 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在脱模层下具有晶格过渡的生长结构被用作用于生长光电子器件的籽晶。光电子器件可以是单结或多结光伏器件。可以在外延剥离(ELO)工艺中选择性地去除脱模层,以将光电子器件与生长结构分离,并保留晶格过渡完整的区域,以重新利用该生长结构来生长另外的器件。描述一种制造方法,该方法包括:提供具有衬底和从第一晶格常数到第二晶格常数的晶格过渡的生长结构;在生长结构上沉积脱模层;在脱模层上沉积具有与第二晶格常数匹配的晶格常数并包括光电子器件的外延层;以及去除脱模层以将外延层和光电子器件与生长结构分离。 | ||
搜索关键词: | 用于 光电子 器件 制造 脱模 生长 结构 | ||
【主权项】:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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