[发明专利]光谱测定方法、光谱测定装置以及宽波段脉冲光源单元有效
| 申请号： | 201880036736.0 | 申请日： | 2018-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN110730903B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 太田彩;横田利夫 | 申请（专利权）人： | 优志旺电机株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/433;G01N21/31;G02F1/365 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 徐殿军 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种新的光谱测定技术，即使在被测定光仅存在非常短时间的情况下也能够进行测定。使被测定光(L0)与在脉冲内波长随时间连续地变化的宽波段脉冲光(L1)干涉，将对所发出的干涉光进行检测的检测器(5)的输出信号进行傅立叶转换，由此测定被测定光(L0)的每个波长的光强度。来自激光源(1)的激光(L2)通过非线性光学元件(2)而成为超连续光(L3)，通过脉冲伸长元件(3)使其脉冲伸长而生成宽波段脉冲光(L1)。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 测定 方法 装置 以及 波段 脉冲 光源 单元 | ||
【主权项】：
1.一种光谱测定方法，其特征在于，/n使被测定光与在脉冲内波长随时间变化的宽波段脉冲光干涉，通过检测器检测所发出的干涉光的强度，基于检测结果来得到被测定光的每个波长的光强度。/n
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