[发明专利]用于红外光谱测定的高级参考检测器有效
| 申请号： | 201880039198.0 | 申请日： | 2018-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN110770551B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | J·M·考菲 | 申请（专利权）人： | 热电科学仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02;G01J3/45 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;周全 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种其中光学路径遵循干涉仪的光谱测定系统和方法包含具有大体上安置在其焦点处的孔径的Jacquinot光阑(70)。所述Jacquinot光阑包含与所述路径的纵向轴大体上非正交且面向含有干涉图的IR信号的源的反射性表面(74)。所述孔(72)径传递入射IR信号的内部部分，同时所述反射性表面反射外部部分。归因于干涉仪光学件中的固有缺陷而含有错误光谱信息的所述入射IR信号的所述反射的外部部分由此从最终用于照射样本的初始入射IR信号有效地去除，但仍可用于监视取样光学件的背景光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 红外 光谱 测定 高级 参考 检测器 | ||
【主权项】：
1.一种光谱测定系统，其包括：/n干涉图源，其用以提供含有干涉图的IR信号；/n源路径，其包含沿从所述干涉图源延伸的光学路径的第一部分的路径轴的焦点；/nJacquinot光阑，其包含大体上安置在所述焦点处的孔径和与所述路径轴大体上非正交且面向所述干涉图源的反射性表面，其中所述孔径传递所述IR信号的内部部分作为所述IR信号的入射部分，且所述反射性表面反射所述IR信号的外部部分作为所述IR信号的反射部分；和/n参考检测装置，其用以检测所述IR信号的所述反射部分。/n
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