[发明专利]残留氯测定方法及残留氯测定装置在审
| 申请号： | 201880039750.6 | 申请日： | 2018-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN110753840A | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 荣长泰明;渡边刚志;赤井和美;长岛绅一;児玉伴子;堀田国元 | 申请（专利权）人： | 学校法人庆应义塾;一般财团法人机能水研究振兴财团 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416;G01N27/26;G01N27/28;G01N27/30;G01N27/49 |
| 代理公司： | 11240 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 纪秀凤 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种不受电位窗的影响的、准确且简便的测定游离残留氯浓度的方法及装置，不使用有害的试剂就能够获得客观的测定结果。提供一种测定残留氯的方法及装置，使用导电性金刚石电极，测定将导电性金刚石电极相对于银/氯化银电极的电位设为0V～+1.6V的范围内的电位时的电流值而算出基于次氯酸根离子的残留氯浓度，测定将导电性金刚石电极相对于银/氯化银电极的电位设为+0.4V～‑1.0V的范围内的电位时的电流值而算出基于次氯酸的残留氯浓度，将所算出的基于次氯酸根离子的残留氯浓度与所算出的基于次氯酸的残留氯浓度相加作为合计残留氯浓度。另外，提供一种具有温度测定部及/或pH测定部的装置及方法。 | ||
| 搜索关键词： | 残留 电位 导电性金刚石电极 银/氯化银电极 次氯酸根离子 次氯酸 温度测定部 电位窗 相加 游离 | ||
【主权项】：
1.一种残留氯浓度测定方法，其通过使工作电极、对电极及参考电极接触有可能含有残留氯的试样溶液，并在所述工作电极与所述参考电极之间施加电压，测定该电压下的流经所述工作电极电流值，从而测定所述试样溶液中所包含的残留氯浓度，/n所述工作电极为掺杂有硼的导电性金刚石电极，/n所述参考电极为银/氯化银电极，所述残留氯浓度测定方法包括：/n(i)测定将所述导电性金刚石电极相对于所述银/氯化银电极的电位设为0V～+1.6V的范围内的规定电位时的电流值，算出基于次氯酸根离子的残留氯浓度，/n(ii)测定将所述导电性金刚石电极相对于所述银/氯化银电极的电位设为+0.4V～-1.0V的范围内的规定电位时的电流值，算出基于次氯酸的残留氯浓度，/n(iii)将所述(i)所算出的基于次氯酸根离子的残留氯浓度与所述(ii)所算出的基于次氯酸的残留氯浓度相加，将所述相加而得的合计残留氯浓度作为所述试样溶液的残留氯浓度。/n
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