[发明专利]电磁辐射探测器在审

专利信息
申请号: 201880040817.8 申请日: 2018-06-20
公开(公告)号: CN110770550A 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 戴维德·史克尔提萨蒂;赛吉欧·佩莱格里诺;贾科莫·卡佩拉 申请(专利权)人: 镭射点有限公司
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J5/12;G01K17/00
代理公司: 31272 上海申新律师事务所 代理人: 董科
地址: 意大利米兰*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要: 描述了一种电磁辐射(RL)的探测器。探测器包括:一有取向的热电材料多晶层(2),‑一衬底(1),叠加在有取向的多晶层的顶表面上,使得背面(10)与有取向的多晶层接触,‑第一和第二电极,彼此隔开并与有取向的多晶层电接触。衬底包括至少一个陶瓷层,并且有取向的多晶层具有相对于衬底的顶表面的法线成30度至55度之间的角度的晶体取向。
搜索关键词: 多晶层 取向 衬底 顶表面 探测器 法线 电磁辐射 第二电极 晶体取向 热电材料 电接触 陶瓷层 隔开 叠加 背面
【主权项】:
1.一种电磁辐射探测器,包括:/n-有取向的热电材料多晶层(2),/n-一衬底(1),叠加在所述有取向的多晶层的顶表面上,使得背面(10)与所述有取向的多晶层接触,/n-第一电极(6)和第二电极(7),彼此隔开并与所述有取向的多晶层电接触,/n其特征在于,所述衬底包括至少一个陶瓷层,并且所述有取向的多晶层具有相对于所述衬底顶表面的法线成30度至55度之间的角度的晶体取向。/n
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