[发明专利]量测设备和衬底平台输送装置系统在审

专利信息
申请号: 201880046374.3 申请日: 2018-07-13
公开(公告)号: CN110869855A 公开(公告)日: 2020-03-06
发明(设计)人: F·G·C·比基恩;金原淳一;S·C·J·A·凯吉;T·A·马塔尔;P·F·范吉尔斯 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F9/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王益
地址: 荷兰维*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 为了改善测量设备的生产率性能和/或经济性,本发明提供一种量测设备,包括:第一测量设备;第二测量设备;第一衬底平台,所述第一衬底平台被配置为保持第一衬底和/或第二衬底;第二衬底平台,所述第二衬底平台被配置为保持所述第一衬底和/或所述第二衬底;第一衬底输送装置,所述第一衬底输送装置被配置为输送所述第一衬底和/或所述第二衬底;和第二衬底输送装置,所述第二衬底输送装置被配置为输送所述第一衬底和/或所述第二衬底,其中,从第一FOUP、第二FOUP或第三FOUP装载所述第一衬底,其中,从所述第一FOUP、所述第二FOUP或所述第三FOUP装载所述第二衬底,其中所述第一测量设备是对准测量设备,以及其中所述第二测量设备是水平传感器、膜厚度测量设备或光谱反射率测量设备。
搜索关键词: 设备 衬底 平台 输送 装置 系统
【主权项】:
暂无信息
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