[发明专利]测量装置及照射装置有效
| 申请号： | 201880051267.X | 申请日： | 2018-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN110998295B | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 安井武史;岩田哲郎;水谷康弘;南川丈夫;水野孝彦;长谷荣治;山本裕绍 | 申请（专利权）人： | 国立研究开发法人科学技术振兴机构 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G02B21/06 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;王艳春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的测量装置包括：光射出部，其以使相邻频率间隔互不相同的方式射出多个光谱光，该光谱光包含两个以上以互不相同的频率进行分布的光谱；聚光部，其使两个以上的光谱在重叠区域中重叠且互相错开地聚光至样品的多个不同聚光点区域的相应区域；以及检测部，获得荧光差拍的信号，该荧光差拍通过位于所述样品中的多个重叠区域的每一个处的干涉光差拍而发光且包括所述样品的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 照射 | ||
【主权项】：
暂无信息
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