[发明专利]粒子检测传感器有效
| 申请号： | 201880055186.7 | 申请日： | 2018-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN111051851B | 公开（公告）日： | 2022-12-06 |
| 发明（设计）人： | 永谷吉祥;中川贵司;川人圭子;安池则之 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/14;G01N21/03;G01N21/47 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 对测量对象中包含的多个粒子进行检测的粒子检测传感器(1)，具备：投光部(20)，向检测区域(DA)射出光；受光部(30)，在作为多个粒子的至少一个的对象粒子通过检测区域(DA)的情况下，接受由该对象粒子产生的光的散射光；壳体(10)，容纳投光部(20)以及受光部(30)，在内部具有检测区域(DA)；以及信号处理电路(50)，信号处理电路(50)，获得多个粒子没有通过检测区域(DA)时由受光部(30)接受的漫射光的受光强度的随时间的变化量，根据获得的随时间的变化量，校正散射光的受光强度，根据校正后的散射光的受光强度，将对象粒子分类为多个粒子尺寸的任一个，并且，确定检测出的对象粒子的个数，从而计算测量对象中包含的粒子的质量浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 检测 传感器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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