[发明专利]用于电子器件的测试设备的接合元件及相应的制造方法有效
| 申请号： | 201880058238.6 | 申请日： | 2018-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN111051897B | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·克里帕;里卡尔多·维托里 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R1/067;G01R3/00 |
| 代理公司： | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人： | 方挺;黄谦 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于电子器件的测试设备的接合元件(20)，包括设置有多个贯通开口(22)的至少一个支撑件(21)，所述多个贯通开口(22)容纳有各自的互连元件(23)，所述互连元件(23)在第一端(23a)和第二端(23b)之间延伸。适当地，所述互连元件(23)由填充所述支撑件(21)的所述开口(22)的导电弹性体制成，各个互连元件(23)在所述支撑件(21)的不同且相对的面(Fa，Fb)之间形成导电通道。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子器件 测试 设备 接合 元件 相应 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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