[发明专利]光抑制光子结构在审

专利信息
申请号: 201880061902.2 申请日: 2018-07-23
公开(公告)号: CN111133294A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 乔纳森·M·罗思伯格;杰勒德·施密德;亚历山大·贡达伦科;J·比奇;K·普勒斯顿;法席德·加塞米;杰瑞米·拉基;杰克·朱厄尔;基斯·G·法夫;阿里·卡比里 申请(专利权)人: 宽腾矽公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;C12Q1/6869
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 付文川;吴小瑛
地址: 美国康*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了用于并行分析样品的集成装置以及相关仪器及系统。该集成装置可包含配置于其表面上的样品孔,其中个别样品孔经配置以接收经至少一种荧光标记物标记的样品,该至少一种荧光标记物经配置以响应于激发光发射发射光。该集成装置可进一步包含定位于该集成装置的层中的光检测器,其中一或多个光检测器经定位以接收自样品孔发射的发射光的光子。该集成装置进一步包含一或多个定位于这些样品孔与这些光检测器之间的光子结构,其中该一或多个光子结构经配置以相对于该发射光衰减该激发光,从而由该一或多个光检测器生成的信号指示检测到发射光的光子。
搜索关键词: 抑制 光子 结构
【主权项】:
暂无信息
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