[发明专利]路径解析的光学采样架构在审
申请号: | 201880063438.0 | 申请日: | 2018-09-27 |
公开(公告)号: | CN111164415A | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | M·A·阿伯雷;M·A·特雷尔;J·佩尔克 | 申请(专利权)人: | 苹果公司 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 张曦 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本文描述了光学采样架构及其操作方法。光学采样架构能够朝向发射区域发射发射片光束,以及从检测区域接收检测片光束。所述发射区域可具有相对于另一个维度是伸长的一个维度。所述检测区域也可具有相对于另一个维度伸长的一个维度,使得所述系统可选择性地接纳具有一个或多个特性(例如,入射角度、光束尺寸、光束形状等)的光。在一些示例中,所述检测区域的所述伸长维度可大于所述发射区域的所述伸长维度。在一些示例中,所述系统可包括输出耦合器阵列和相关联部件,以产生具有不同的平面内发射位置和/或平面内发射角度的光线的发射片光束。 | ||
搜索关键词: | 路径 解析 光学 采样 架构 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苹果公司,未经苹果公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880063438.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于吸烟制品的过滤嘴单元
- 下一篇:包络跟踪器PMIC的控制