[发明专利]磁共振成像中弛豫时间的定量测量有效
| 申请号： | 201880067580.2 | 申请日： | 2018-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN111247449B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | C·施特宁;J·塞内加 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055;G01R33/50 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 孟杰雄 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了磁共振成像系统(100、400)。机器可执行指令(140)使控制磁共振成像系统的处理器(130)利用脉冲序列命令控制(200)磁共振成像系统以采集一系列磁共振数据和噪声磁共振数据。脉冲序列命令被配置用于控制磁共振成像系统以根据用于定量确定弛豫时间的定量磁共振成像协议从对象(118)采集一系列磁共振数据(144)。定量磁共振成像协议被配置用于控制磁共振成像系统以使用多个脉冲序列重复(508)来采集一系列磁共振数据。多个脉冲序列重复中的每个包括磁梯度部分(502)、射频部分(500)和采集部分(504)。定量磁共振成像协议包括多个脉冲序列重复中的至少两个之间的暂停周期(510)，其中，脉冲序列命令被配置用于使用磁梯度部分和采集部分在暂停周期期间采集噪声磁共振数据(146)。射频部分在噪声磁共振数据的采集期间被停用。对机器可执行指令的执行还使处理器使用一系列磁共振数据来重建(202)针对弛豫时间而加权的一系列磁共振图像(148)，并且使用噪声磁共振数据来重建(204)噪声磁共振图像(150)。 | ||
| 搜索关键词： | 磁共振 成像 弛豫时间 定量 测量 | ||
【主权项】：
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