[发明专利]借助由扫描器光具偏转测量激光射束来测量构建缸组件的基础元件的方法有效

专利信息
申请号: 201880071678.5 申请日: 2018-10-17
公开(公告)号: CN111295259B 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: M·皮格;F·沙尔;S·丹巴赫;V·布利克勒 申请(专利权)人: 通快激光与系统工程有限公司
主分类号: B22F3/105 分类号: B22F3/105;B33Y10/00;B33Y30/00;B29C64/153
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 侯鸣慧
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于测量构建缸组件(11)的基础元件(13)的方法,所述基础元件尤其是基底(13a)或预制件(13b),其中,构建缸组件(11)布置在机器(1)上,所述机器用于通过借助高能射束(16)烧结或熔化粉末状材料(6)逐层制造三维对象(2),其中,基础元件(13)在构建缸组件(11)的基本上柱形的基体(14)中能借助活塞(12)移动,其中,为了测量基础元件(13),由激光产生测量图案(50),所述测量图案照射基础元件(13)的至少一个部分,并且,激光的入射地点(A1,A2)借助摄像机(21)被观察和分析评价并从而确定关于基础元件(13)的测量数据,所述测量数据包括位置信息和/或取向信息和/或关于基础元件(13)的表面(01‑03)的至少一个部分的三维构型的信息,其特征在于,由激光产生测量图案(50),其方式是,测量激光器(23)的激光射束(24)被扫描器光具(19)偏转,使得产生不同地经偏转的激光射束(24a),并且,经偏转的激光射束(24a)至少指向到基础元件(13)的所述部分上,并且,摄像机(21)相对于经偏转的激光射束(24a)在侧向错开布置。本发明提供一种简单的并且能灵活使用的用于测量基础元件的方法,所述方法以过程腔中的小的安装空间就足以实现。
搜索关键词: 借助 扫描器 偏转 测量 激光 射束来 构建 组件 基础 元件 方法
【主权项】:
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