[发明专利]微器件和相关两件式器件,特别是微光学系统的晶片级制造有效

专利信息
申请号: 201880072970.9 申请日: 2018-08-16
公开(公告)号: CN111356948B 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 亚历山大·比奇;哈特姆特·鲁德曼 申请(专利权)人: ams传感器新加坡私人有限公司
主分类号: G02B7/02 分类号: G02B7/02;B32B37/12;G02B3/00;B32B7/14
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 张红霞;王诚华
地址: 新加坡新加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 器件(10)包括在垂直方向上彼此堆叠的第一构件(1)和第二构件(2)。第一构件和第二构件各自包括中心部分(C1;C2),并且第一构件(1)至少包括邻接第二构件(2)的第一间隔元件(4)。器件(10)包括间隙区域(G)和粘接材料(3),其中间隙区域在中心部分(C1;C2)外围,并且在间隙区域(G)中,在第一构件和第二构件之间存在间隙(5)。间隙(5)的一部分被粘接材料(3)填充,该粘接材料在包括在间隙区域中的粘接区域(B)中将第一构件和第二构件彼此粘接。间隙(5)的高度(h)由第一间隔元件(4)限定。
搜索关键词: 器件 相关 两件式 特别是 微光 系统 晶片 制造
【主权项】:
暂无信息
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