[发明专利]基板输送装置、基板处理系统、基板处理方法以及计算机存储介质有效
申请号: | 201880074073.1 | 申请日: | 2018-11-09 |
公开(公告)号: | CN111386598B | 公开(公告)日: | 2023-10-20 |
发明(设计)人: | 児玉宗久 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;B65G49/07;H01L21/304 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种基板输送装置,其利用基板保持部保持基板的一面地进行输送且交接基板的另一面,其中,该基板输送装置具有:倾动机构,其使所述基板保持部从侧视角度看倾动自如;以及固定机构,其用于固定所述基板保持部的从侧视角度看的倾动。 | ||
搜索关键词: | 输送 装置 处理 系统 方法 以及 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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