[发明专利]用于校准辐射式密度测量装置的方法在审
| 申请号： | 201880074437.6 | 申请日： | 2018-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN111542743A | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 阿伦·尚卡尔·文卡泰什·耶尔;纳西斯·米歇尔·尼茨基厄加德乌;西蒙·魏登布鲁赫;约恩·朗热;塞巴斯蒂安·伊曼 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司 |
| 主分类号： | G01N9/24 | 分类号： | G01N9/24 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆森;戚传江 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种用于校准辐射式装置的方法，该辐射式装置用于确定和/或监测位于容器(1)中的介质(6)的密度。该方法包括如下方法步骤：根据公式N/N |
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| 搜索关键词： | 用于 校准 辐射 密度 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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