[发明专利]用于样品的光致发光测量的方法在审
申请号: | 201880074469.6 | 申请日: | 2018-11-20 |
公开(公告)号: | CN111373243A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | R·瓦拉奇 | 申请(专利权)人: | 法国原子能源和替代能源委员会 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/95;H02S50/15;G01N21/84 |
代理公司: | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人: | 罗婷婷;林蕾 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于样品(10)的光致发光测量的方法,该样品包括通过轮廓C连接的前表面(11)和后表面(12),样品(10)经由该样品的后表面(12)搁置在活性基板(20)的接纳表面(21)上,样品(10)包括第一区域(13),该第一区域(13)部分地由轮廓C界定,并且发射任何点处的强度都低于样品(10)的光致发光信号的平均强度的光致发光信号,该强度被称为第一强度,该平均强度被称为参考强度,活性基板(20)发射强度至少等于参考强度的光致发光信号,该强度被称为辅助强度,活性基板(20)包括边缘B,该边缘B与轮廓C分隔重叠距离,并且与所述轮廓C一起界定活性基板(20)的周边部分(24)。 | ||
搜索关键词: | 用于 样品 光致发光 测量 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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