[发明专利]通过尺寸排阻色谱法确定颗粒尺寸分布在审
申请号: | 201880078016.0 | 申请日: | 2018-12-11 |
公开(公告)号: | CN111448448A | 公开(公告)日: | 2020-07-24 |
发明(设计)人: | 奥克萨纳·巴克;塞伊·拉通德-达达;马科斯·特赖克里奥蒂斯;戴维·巴克 | 申请(专利权)人: | 马尔文帕纳科 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G01N30/02;G01N21/49;G01N21/53;G01N15/06 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 王红艳 |
地址: | 英国伍*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开了一种用于表征包括颗粒的样本的方法和设备(100,200,300)。该方法包括使用第一颗粒表征技术对样本执行第一测量;以及使样本从第一颗粒表征技术流到颗粒分离装置;用颗粒分离装置分离样本;以及对分离的样本执行第二测量。设备(100,200,300)被配置为执行该方法,并且包括用于根据第一颗粒表征技术(104,105,106)执行测量的测量系统,以及用于分离包括颗粒的样本的颗粒分离装置(102)。 | ||
搜索关键词: | 通过 尺寸 色谱 确定 颗粒 分布 | ||
【主权项】:
暂无信息
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