[发明专利]X射线断层扫描检查系统及方法在审
| 申请号： | 201880078622.2 | 申请日： | 2018-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN111448481A | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 爱德华·詹姆斯·莫顿 | 申请（专利权）人： | 拉皮斯坎系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/12 | 分类号： | G01V5/12 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 刘梅 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种在用在X射线检查系统中的光学组件。该光学组件具有：光源；光电阴极，定位成使得该其处于由光源所发射的光路中；以及至少两个倍增电极。这些倍增电极中的一个被定位成接收由光电阴极发射的电子，并且另一个倍增电极被定位成接收由第一倍增电极发射的电子。光源优选地是LED光源或激光光源中的一种。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 断层 扫描 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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