[发明专利]检测模块的不良安装状态的方法和阵列在审
| 申请号： | 201880079997.0 | 申请日： | 2018-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN111466078A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 岩崎孝;森宏治;齐藤健司;饭屋谷和志;古结靖和 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | H02S50/00 | 分类号： | H02S50/00;H01L31/054;H02S20/10;H02S20/32;H02S40/22 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 李兰;孙志湧 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于在聚光光伏设备中检测不良模块安装状态的方法包括：通过成像装置对阵列的表面进行拍摄；获得图像，在该图像中形成通过聚光透镜放大的包括电池及其附近的光接收部的虚像，并且虚像的像素集合形成整个光接收部的合成虚像，合成虚像被投影在多个模块上；并且基于合成虚像的形态检测不良模块安装状态。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 模块 不良 安装 状态 方法 阵列 | ||
【主权项】：
暂无信息
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