[发明专利]处理装置、半导体集成电路以及状态监视方法有效

专利信息
申请号: 201880083873.X 申请日: 2018-11-05
公开(公告)号: CN111527724B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 后藤诚司;仁茂田永一 申请(专利权)人: 株式会社索思未来
主分类号: H04L9/32 分类号: H04L9/32;G06F11/30;G06F11/34;G06F21/60
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;王海奇
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 安全地监视多个半导体集成电路的状态。在具有半导体集成电路(11~13)的处理装置(10)中,设置于半导体集成电路(13)的状态监视电路(13c)对半导体集成电路(11、12)指示发送表示半导体集成电路(11、12)的状态的状态信息,并在设置于每个半导体集成电路(11、12)的状态监视电路(11c)接收到发送状态信息的指示的情况下,对半导体集成电路(13)发送对状态信息加密后的加密信息。
搜索关键词: 处理 装置 半导体 集成电路 以及 状态 监视 方法
【主权项】:
暂无信息
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