[发明专利]测量装置在审
| 申请号： | 201880086495.0 | 申请日： | 2018-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN111727364A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 增田雄治;米田将史;中园纯平 | 申请（专利权）人： | 京瓷株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N15/14 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李逸雪 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的测量装置是能够测量流体中的特定的粒子的测量装置，具备：流路器件，具有包含透光性的所述粒子的第1流体所经过的第1流路、以及不包含所述粒子的第2流体所经过的第2流路；光学传感器，与所述流路器件对置，对所述第1流路以及所述第2流路的每一个照射光，并接收分别经过了所述第1流路以及所述第2流路的光；以及控制部，将通过所述光学传感器而得的经过了所述第1流路的光的强度以及经过了所述第2流路的光的强度进行比较，由此来测量所述粒子。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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