[发明专利]光测定装置及光测定方法有效

专利信息
申请号: 201880087284.9 申请日: 2018-10-10
公开(公告)号: CN111630373B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: 铃木健吾;江浦茂;井口和也 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01J3/443
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 分光测定装置(1)具备:光源(2),其输出激发光;积分器(3),其具有供长余辉发光材料(S)配置的内部空间(11),自内部空间(11)输出检测光;分光检测器(4),其取得检测光的光谱数据;解析部(21),其基于光谱数据对长余辉发光材料(S)的发光量子产率进行解析;及控制部(22),其控制激发光向内部空间(11)的输入的有无的切换及分光检测器(4)中的曝光时间;控制部(22)以在第1期间(T1)维持向内部空间(11)输入激发光且在第2期间(T2)停止向内部空间(11)输入激发光的方式控制光源(2),并以第2期间(T2)内的曝光时间(t2)长于第1期间(T1)内的曝光时间(t1)的方式控制分光检测器(4)。
搜索关键词: 测定 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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