[发明专利]光测定装置及光测定方法有效
申请号: | 201880087284.9 | 申请日: | 2018-10-10 |
公开(公告)号: | CN111630373B | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 铃木健吾;江浦茂;井口和也 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01J3/443 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
分光测定装置(1)具备:光源(2),其输出激发光;积分器(3),其具有供长余辉发光材料(S)配置的内部空间(11),自内部空间(11)输出检测光;分光检测器(4),其取得检测光的光谱数据;解析部(21),其基于光谱数据对长余辉发光材料(S)的发光量子产率进行解析;及控制部(22),其控制激发光向内部空间(11)的输入的有无的切换及分光检测器(4)中的曝光时间;控制部(22)以在第1期间(T |
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搜索关键词: | 测定 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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