[发明专利]半导体装置以及电力变换装置有效

专利信息
申请号: 201880087286.8 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN111630401B 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 伊藤悠策;中松佑介;富泽淳 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G01R31/58 分类号: G01R31/58;G01R31/26;H01L23/49;H02M7/48
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 金春实
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供使用键合导线的电感分量提高劣化探测精度的半导体装置。该提高劣化探测精度的半导体装置具备:第1导体图案(5),形成于绝缘基板(1)上,流过半导体元件(6)的主电流;第2导体图案(3),形成于绝缘基板(1)上,用于检测半导体元件(6)表面电极(8)的电位;第1键合导线(9),连接表面电极(8)和第1导体图案(5);第2键合导线(10),连接表面电极(8)和第2导体图案(3);电压检测部(12),与第1导体图案(5)及第2导体图案(3)连接,检测半导体元件(6)的开关时的第1导体图案(5)与第2导体图案(3)之间的电压差;以及劣化探测部(13),使用检测到的电压差,探测第1键合导线(9)的劣化。
搜索关键词: 半导体 装置 以及 电力 变换
【主权项】:
暂无信息
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