[发明专利]试样支承体、试样的离子化方法及质谱分析方法在审
| 申请号： | 201880087782.3 | 申请日： | 2018-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN111656180A | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 泷本未羽;大村孝幸;小谷政弘 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳;王昊 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种试样支承体，其用于将试样离子化，其中，具备：第一层，其上形成有多个第一贯通孔；导电层，其以不堵塞第一贯通孔的方式设置于第一层的表面；第二层，其设置于第一层的与导电层相反侧，且其上形成有多个第二贯通孔，多个第一贯通孔及多个第二贯通孔沿第一层及第二层的厚度方向延伸，多个第二贯通孔分别与多个第一贯通孔中的一个以上的第一贯通孔连通，第一贯通孔的宽度小于第二贯通孔的宽度，第一贯通孔的开口率小于第二贯通孔的开口率。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 支承 离子化 方法 谱分析 | ||
【主权项】：
暂无信息
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