[发明专利]分光分析控制装置、分光分析装置、分光分析控制方法以及分光分析控制程序有效
| 申请号： | 201880088373.5 | 申请日： | 2018-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN111670347B | 公开（公告）日： | 2023-02-17 |
| 发明（设计）人： | 石垣雅基 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 控制显示部，使得依次显示与在定量中以预先确定的顺序依次执行的多个工序分别对应的多个参数设定画面，并显示与多个工序分别对应的多个工序指标。在多个参数设定画面中，受理与多个工序分别对应的多个参数的输入。每当在各参数设定画面中的参数的输入的受理完成时，将已被受理的该参数设定为不可变更。控制显示部，使得每当在一个参数设定画面中设定参数时，显示下一个参数设定画面，并且将多个工序指标中的与正显示的参数设定画面对应的工序指标以能够从其它工序指标识别出的方式进行显示。基于所设定的参数来控制分光光度计。由定量执行部基于所设定的多个参数进行试样的定量。 | ||
| 搜索关键词： | 分光 分析 控制 装置 方法 以及 控制程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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