[发明专利]测距单元及光照射装置有效

专利信息
申请号: 201880092060.7 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN111936817B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 奥间惇治 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦;黄浩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的测距单元,具备:将激光即测距光输出的测距光源、使测距光及由对象物的被测量面反射的测距光的反射光透过的对物透镜、使反射光透过并将由对物透镜所产生的测距光或是反射光的聚光位置中的像在成像位置成像的成像透镜、调整反射光的光路的光路调整部、及检测反射光的光检测部。对物透镜,在测距光的光路与对物透镜的中心轴分离的状态下,将测距光朝对象物侧透过。光路调整部,以使在与入射至光检测部的反射光的入射方向垂直的至少一方向被成像的反射光的成像位置,接近与入射方向交叉的规定面的方式,调整反射光的光路。光检测部的受光面,以沿着规定面的方式定位。
搜索关键词: 测距 单元 照射 装置
【主权项】:
暂无信息
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