[发明专利]荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法有效
| 申请号： | 201880093239.4 | 申请日： | 2018-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN112105919B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 斋藤佑多 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 利用旋转驱动装置使支承部和准直器绕旋转轴相对地旋转。准直器具有屏蔽X射线的屏蔽区域和使X射线透过的透过区域。透过区域具有位于旋转轴上的顶点，透过区域的周向上的长度从顶点朝向外部成比例地增加。利用X射线源使X射线通过准直器的透过区域地向由支承部支承的试样照射，利用检测器检测来自试样的荧光X射线。基于由检测器检测到的荧光X射线来进行试样的组成的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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