[发明专利]相位校准方法、相关装置及设备有效

专利信息
申请号: 201880095116.4 申请日: 2018-06-26
公开(公告)号: CN112368957B 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 李治;诸小胜 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H04B17/21 分类号: H04B17/21;H04B7/04
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强;李稷芳
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请实施例公开了一种相位校准方法、相关装置及设备。方法包括:启用阵列天线的n个通道,其中,n为大于或等于2的正整数,确定所述n个通道中基准通道中的调试信号与参考信号之间的基准相位差,以及除所述基准通道之外的其他n‑1个通道中的调试信号与所述参考信号之间的目标相位差,基于所述n‑1个通道各自的目标相位差与所述基准相位差之间的差值,调整所述n‑1个通道中每个通道中的移相器,以使得所述n‑1个通道中每个通道的调试信号的相位与所述基准通道的调试限号的相位相同。本申请实施例通过在启用阵列天线n个通道的情况下对阵列天线通道相位进行校准,能够克服阵列天线通道相位校准中通道间互耦效应对通道中信号相位的影响。
搜索关键词: 相位 校准 方法 相关 装置 设备
【主权项】:
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