[发明专利]辐射成像的方法和系统在审
申请号: | 201880097046.6 | 申请日: | 2018-10-09 |
公开(公告)号: | CN112639533A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 曹培炎;刘雨润 | 申请(专利权)人: | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本文公开一种辐射成像的方法,其包括:在辐射检测器的像素阵列(150)中的像素处获得信号,其中所述信号产生自入射在所述辐射检测器(100)上的辐射;通过利用在所述像素阵列中的一组参考像素处从所述辐射产生的一组参考信号的组合来校正所述信号而获得校正信号,其中一组权重被分别应用于所述组合中的所述参考信号组;并基于所述校正信号形成图像;其中所述权重组是所述像素相对于所述像素阵列的位置的函数。此外本文披露了生成具有辐射的图像的系统和计算机程序产品。 | ||
搜索关键词: | 辐射 成像 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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