[发明专利]一种3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法在审

专利信息
申请号: 201910000518.8 申请日: 2019-01-02
公开(公告)号: CN109782692A 公开(公告)日: 2019-05-21
发明(设计)人: 邹捷;高翔;晏伟;贾衡;李鹏 申请(专利权)人: 武汉华中数控股份有限公司;华中科技大学
主分类号: G05B19/404 分类号: G05B19/404
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 张涛
地址: 430223 湖北省武汉市东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法,包括对工件进行初步找正,消除工件装夹位置误差,完成工艺基准的修正;初步找正后,针对大量离散离散点集作为优化输入,进行在机测量自适应路径首次优化,获取测量点;进行外轮廓测量路径规划,获取规避点和每个测量点的误差值;根据规避点来改变测量轨迹走向,生成了无干涉测量路径,根据误差值对首次优化获得的测量点进行测量误差补偿,完成刀位路径点补偿。本发明能满足测量点密度随着轮廓曲率变化而变化,待测轮廓曲率变化越大,测量点就越稠密,通过该方法确认存在避障点给定合理的避障距离,不会将测量路径放的过大,在兼顾精度和效率的情况下,实现无碰撞测量路径的规划流程。
搜索关键词: 测量点 自适应 测量路径 加工路径 轮廓曲率 过渡区 壳体 找正 优化 测量误差补偿 外轮廓测量 避障距离 刀位路径 改变测量 干涉测量 工件装夹 工艺基准 规划流程 离散点集 路径规划 位置误差 在机测量 避障点 点补偿 无碰撞 稠密 规划 修正
【主权项】:
1.一种3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,对工件进行初步找正,消除工件装夹位置误差,完成工艺基准的修正;步骤2,初步找正后,针对大量离散离散点集作为优化输入,进行在机测量自适应路径首次优化,获取测量点;步骤3,进行外轮廓测量路径规划,获取规避点和每个测量点的误差值;步骤4,根据所述规避点来改变测量轨迹走向,生成了无干涉测量路径,根据所述误差值对首次优化获得的测量点进行测量误差补偿,完成刀位路径点补偿。
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