[发明专利]一种二值条纹离焦投影系统低通滤波特性测量方法有效
| 申请号： | 201910006170.3 | 申请日： | 2019-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN109579738B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 郝群;赵亚如;胡摇;张韶辉;付诗航 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人： | 唐华 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种二值条纹离焦投影系统低通滤波特性测量方法，属于光学三维测量技术领域。首先用相机采集刀口图像，并求取相机点扩散函数。投影系统离焦投射二值条纹，用相机拍摄该离焦二值条纹图像。之后，利用相机点扩散函数，使用维纳滤波复原算法获得复原离焦二值条纹图像的频谱图。最后，根据输入投影系统的原二值条纹图像频谱图以及复原的离焦二值条纹图像频谱图，测出投影系统的调制传递函数。调制传递函数即反映了投影系统的低通滤波特性。采用本发明方法，无需将投影物镜从投影系统上拆下检测，简化了检测步骤。同时，直接利用投影系统，无需其它中间辅助系统，不会在检测过程中带来其它系统误差，整个采集过程方便、实时、快速。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 条纹 投影 系统 滤波 特性 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种二值条纹离焦投影系统低通滤波特性测量方法，包括以下步骤：首先，用相机拍摄刀口图像，并求取相机点扩散函数；然后，投影系统离焦投射二值条纹，用相机拍摄该离焦二值条纹图像；之后，利用相机点扩散函数，使用维纳滤波复原算法，获得复原的离焦二值条纹图像的频谱图；最后，根据输入投影系统的原二值条纹图像的频谱图和复原的离焦二值条纹图像的频谱图，测出投影系统的调制传递函数，调制传递函数反映了投影系统的低通滤波特性。
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