[发明专利]一种非接触式测量发射导轨扰动的方法在审

专利信息
申请号: 201910009849.8 申请日: 2019-01-05
公开(公告)号: CN109632074A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 周健;刘书杰;张亮亮;蒲海平;孙林;彭关伟;张杰 申请(专利权)人: 西安现代控制技术研究所
主分类号: G01H9/00 分类号: G01H9/00
代理公司: 西安研创天下知识产权代理事务所(普通合伙) 61239 代理人: 杨凤娟
地址: 710065 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种非接触式测量发射导轨扰动的方法,包括白板靶、光斑、高速录像、激光路、小型激光器与发射导轨,所述发射导轨的上端固定安装有小型激光器。本发明所述的一种非接触式测量发射导轨扰动的方法,设有白板靶、光斑、高速录像、激光路、小型激光器与发射导轨,利用激光指向性好、角运动发射导轨可放大为线运动激光光斑的特点;使用高速录像拍摄靶板,通过图像处理得到光斑运动位置数据,就可以计算出发射导轨姿态扰动数据,通过光学放大原理将微弱信号放大,能够精确测量发射导轨俯仰、偏航通道的姿态扰动情况,且无需对发射导轨进行改造,测试成本低,带来更好的使用前景。
搜索关键词: 导轨 发射 非接触式测量 小型激光器 高速录像 光斑 扰动 姿态扰动 白板 放大 激光 俯仰 测试成本 光学放大 激光光斑 激光指向 偏航通道 上端固定 图像处理 微弱信号 运动位置 角运动 线运动 靶板 测量 拍摄 改造
【主权项】:
1.一种非接触式测量发射导轨扰动的方法,包括白板靶(1)、光斑(2)、高速录像(3)、激光路(4)、小型激光器(5)与发射导轨(6),其特征在于:所述发射导轨(6)的上端固定安装有小型激光器(5),所述高速录像(3)位于白板靶(1)的的侧前方,所述光斑(2)位于白板靶(1)的外表面,所述激光路(4)的一端位于小型激光器(5)的一侧外表面。
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