[发明专利]一种基于光学干涉仪的多波长计在审
| 申请号： | 201910010675.7 | 申请日： | 2019-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN109489837A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 陈珂;王晓娜 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 温福雪;侯明远 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于光学干涉仪的多波长计，属于光学测量技术领域。该多波长计包括光线收集器、光扩散元件、透明平行板、线阵光探测器、遮光盒、电路板、按键和显示屏。待测光经光扩散元件后，产生点扩展光束，不同角度的光线入射到透明平行板上，经透明平行板的上表面和下表面分别反射后，在线阵光探测器表面发生干涉。干涉图像的频率与波长成反比。干涉图像中的多个频率则对应多个测量波长。本发明采用非扫描光学干涉方法，通过测量干涉图像的频率即可实现对波长的测量。根据计算出的多个频率，还可实现对多波长的同时测量。这种简单的结构增加了仪器的稳定性和和可靠性，同时，由低成本光电器件组成的干涉仪大幅度降低了波长计的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 多波长 干涉图像 平行板 波长 测量 光扩散元件 光探测器 光学干涉 透明 光学测量技术 电路板 光线收集器 光电器件 光线入射 结构增加 扫描光学 波长计 低成本 干涉仪 上表面 下表面 遮光盒 按键 干涉 测光 线阵 显示屏 反射 | ||
【主权项】：
1.一种基于光学干涉仪的多波长计，其特征在于，所述的基于光学干涉仪的多波长计包括光线收集器(1)、光扩散元件(2)、透明平行板(3)、线阵光探测器(4)、遮光盒(5)、电路板(6)、按键(7)和显示屏(8)；光扩散元件(2)、透明平行板(3)、线阵光探测器(4)和电路板(6)均置于遮光盒(5)中；电路板(6)接收按键(7)的控制信号，对工作参数进行设置；待测光被光线收集器(1)收集，经光扩散元件(2)后，入射到透明平行板(3)，反射光被线阵光探测器(4)接收；电路板(6)中的信号处理器对线阵光探测器(4)探测的光信号预处理后，再通过高精度频率测量法计算出干涉图像频率；电路板(6)中的信号处理器根据波长与干涉图像频率之间的关系反演得到波长，并将测量到的波长结果显示于显示屏(8)。
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