[发明专利]一种膜厚测量仪的点位自动调整方法及膜层厚度测量装置在审
| 申请号： | 201910013510.5 | 申请日： | 2019-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN109751961A | 公开（公告）日： | 2019-05-14 |
| 发明（设计）人： | 张林峰 | 申请（专利权）人： | 成都中电熊猫显示科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G06T7/73 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 文小莉;刘芳 |
| 地址： | 610200 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种膜厚测量仪的点位自动调整方法及膜层厚度测量装置，所述方法包括：在设有彩色滤光膜层的基板上设置目标图像；控制测量探针追踪所述目标图像；当所述测量探针追踪到所述目标图像时，控制所述测量探针对所述膜层厚度开始检测。本发明提供的点位自动调整方法，解决了现有的膜厚测量仪在测量膜层厚度时，需手动校正测量探针的初始测量点，造成测量仪的工作效率低下的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 目标图像 点位 膜层 厚度测量装置 测量探针 膜厚测量 测量 追踪 彩色滤光膜层 膜厚测量仪 测量膜层 工作效率 开始检测 控制测量 手动校正 测量点 基板 探针 | ||
【主权项】：
1.一种膜厚测量仪的点位自动调整方法，其特征在于，所述方法包括：在设有彩色滤光膜层的基板上设置目标图像；控制测量探针追踪所述目标图像；当所述测量探针追踪到所述目标图像时，控制所述测量探针对所述膜层厚度开始检测。
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