[发明专利]低界面阻抗硅/石墨复合负极材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910013854.6 申请日: 2019-01-08
公开(公告)号: CN109962220B 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 陈国荣;施利毅;朱伟杰;董宁;张登松;袁帅;黄雷 申请(专利权)人: 上海大学;中化国际(控股)股份有限公司
主分类号: H01M4/36 分类号: H01M4/36;H01M4/38;H01M4/62;H01M10/0525
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 顾勇华
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及低界面阻抗硅/石墨复合负极材料。该复合负极材料是以纳米硅材料为基底材料,中间层为厚度2~100nm的碳化硅膜,连接硅基体与石墨融合,通过控制膜的厚度保证锂离子在硅/石墨符合体系中的扩散不受界面影响,保证界面低阻抗特征。本发明通过构筑界面层降低硅与石墨之间界面阻抗,实现硅/石墨复合负极材料一体化,然后通过二次造粒、包覆、粉碎、筛分形成低界面阻抗一体化复合负极材料产品。本发明具有的优点是:在硅表面构筑一层具有锂离子穿透能力的碳化硅膜,一方面保护硅在高温下与石墨接触并发生反应而生成碳化硅,进而失去硅的活性;另一方面碳化硅作为硅与石墨融合的界面层,降低了硅与石墨固相之间界面阻抗,提高了硅与石墨的一体化程度。另外,在硅/石墨融合过程中加入气相碳纤维,进一步降低界面阻抗。
搜索关键词: 界面 阻抗 石墨 复合 负极 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种低界面阻抗硅/石墨复合负极材料,其特征在于该复合负极材料是以纳米硅材料为基底材料,中间层为厚度2~100纳米的碳化硅膜,该碳化硅膜的一侧紧密连接基底材料,另一侧与石墨层融合。
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