[发明专利]一种集成电路版图功耗优化方法及装置在审
| 申请号： | 201910020189.3 | 申请日： | 2019-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN111428435A | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚;张学连 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 党丽;王宝筠 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路版图功耗优化方法及装置，通过集成电路的版图数据，获得具有寄生电容与连线图形对应关系的电路网表，进而进行电路网表的仿真，通过仿真结果中寄生电容产生的功耗，确定出由于金属连线而产生的影响功耗的连线寄生电容，进而，通过电路网表可以确定出该影响功耗的寄生电容对应的金属连线，之后，可以对该金属连线进行功耗优化。该方法中，在集成电路版图设计时，从寄生电容产生的功耗方面进行功耗的优化，实现版图设计层面上的功耗优化，有助于持续降低功耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 版图 功耗 优化 方法 装置 | ||
【主权项】：
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