[发明专利]用于物体异常检查的物体检查系统有效
| 申请号： | 201910026635.1 | 申请日： | 2019-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN109632824B | 公开（公告）日： | 2020-04-21 |
| 发明（设计）人： | 杨维平;周伟 | 申请（专利权）人： | 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/956;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 林锦辉 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本公开涉及用于物体异常检查的物体检查系统。该物体检查系统包括：光照设备，被配置为照射待检查的物体；摄像设备，被配置为在光照设备的照射下对待检查的物体进行图像拍摄；以及其中，光照设备包括：曲面光罩，曲面光罩具有凹陷曲面，凹陷曲面被布置为朝向待检查的物体；以及布置在曲面光罩的凹陷曲面上的多个单色可见光源，被配置为照射待检查的物体，其中，多个单色可见光源的位置和凹陷曲面的形状能够使得多个单色可见光源发出的单色可见光形成在预定照射范围内的照度偏差不超过10％的照射光来照射待检查的物体。该物体检查系统能够获得清晰的物体图像，从而可基于该物体图像判别待检查的物体是否存在异常。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 物体 异常 检查 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于物体异常检查的物体检查系统，包括：光照设备，被配置为照射待检查的物体；摄像设备，被配置为在所述光照设备的照射下对所述待检查的物体进行图像拍摄；以及其中，所述光照设备包括：曲面光罩，所述曲面光罩具有凹陷曲面，所述凹陷曲面被布置为朝向所述待检查的物体；以及布置在所述曲面光罩的凹陷曲面上的多个单色可见光源，被配置为照射所述待检查的物体，其中，所述多个单色可见光源的位置和所述凹陷曲面的形状能够使得所述多个单色可见光源发出的单色可见光形成在预定照射范围内的照度偏差不超过10％的照射光来照射所述待检查的物体，所述预定照射范围不少于所述待检查的物体的待检查部分所在的区域。
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