[发明专利]一种针对智能卡芯片的测试系统在审
| 申请号： | 201910028436.4 | 申请日： | 2019-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN111435145A | 公开（公告）日： | 2020-07-21 |
| 发明（设计）人： | 石志刚;来金鑫 | 申请（专利权）人： | 北京确安科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种针对智能卡芯片的测试系统，包括测试机及参与并行测试的多个智能卡芯片；其中：测试机包括一个或多个100MDM板卡，100MDM板卡包括多个100MDM测试资源；并且，每个智能卡芯片的VCC管脚单独连接100MDM板卡进行供电；多个智能卡芯片的同种类的第一管脚采用多位复用的方式连接100MDM测试资源，第一管脚的信号不随周期进行电平翻转；每个智能卡芯片的第二管脚单独连接100MDM测试资源，第二管脚的信号随周期进行电平翻转。本发明实施例提供的针对智能卡芯片的测试系统，通过采用100MDM板卡给VCC管脚供电，并且同种类的第一管脚复用100MDM测试资源，有效地减少了测试机板卡的使用数量，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 智能卡 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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