[发明专利]用于测量特殊能段X光信号的方法有效
| 申请号： | 201910032452.0 | 申请日： | 2019-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN109613596B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 杨品;杨正华;黎宇坤;张璐;孙亮;王静 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;G01T1/36 |
| 代理公司： | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 | 代理人： | 蔡冬彦 |
| 地址： | 621900 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测量特殊能段X光信号的方法，包括以下步骤：1)靶点发出X光；2)利用多层膜反射镜对能点高于设定最大值的X光进行截止，利用滤片对能点低于设定最小值的X光进行衰减；3)利用记录设备记录获取到的X光信号。采用本发明提供的用于测量特殊能段X光信号的方法，设计巧妙，采用滤片与多层膜反射镜相结合的方式进行能谱选择，能有效滤除低能段和高能段的X光，特别是能够充分地抑制高能尾部连续谱X光，得到极低噪声的特殊能段X光信号，以利于对物理信息进行准确的分析和对实验现象进行准确的解读。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 特殊 信号 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量特殊能段X光信号的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)靶点(3)发出X光；2)利用多层膜反射镜(1)对能点高于设定最大值的X光进行截止，利用滤片(2)对能点低于设定最小值的X光进行衰减；3)利用记录设备(4)记录获取到的X光信号。
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