[发明专利]一种基于超材料结构的新型微纳折射率传感器在审
| 申请号： | 201910035608.0 | 申请日： | 2019-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN109580545A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 伍铁生;张慧仙;王学玉;王宜颖;曹卫平 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N21/552 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 石燕妮 |
| 地址： | 541004 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于超材料结构的新型微纳折射率传感器，解决的是传统光学折射率传感器由于结构尺寸大，无法实现在纳米尺度进行检测的问题，其结构包括基板和传感单元，其中传感单元位于基板上方并呈等间距分布。所述基板包括两层金属板和一层介质板；所述传感单元包括介质底板和介质底板上设置的两个平行金属纳米圆柱；金属纳米圆柱与介质底板的边缘在纵向相切，所述金属纳米圆柱的长度与传感单元长边的长度一致。所述微纳折射率传感器采用介质底板与第一介质板的材质相同，第一金属板、第二金属板及金属纳米圆柱的材质相同的技术方案，较好地实现了折射率传感器小型化和集成化，可用于以纳米领域的折射率测量为基准的各类传感器中。 | ||
| 搜索关键词： | 折射率传感器 传感单元 介质底板 金属纳米 基板 超材料结构 介质板 金属板 等间距分布 两层金属板 折射率测量 长度一致 传统光学 纳米尺度 平行金属 集成化 传感器 长边 可用 相切 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基于超材料结构的新型微纳折射率传感器，其特征在于：所述基于超材料结构的新型微纳折射率传感器包括基板，基板上等间距阵列设置的传感单元；所述基板包括从下往上依次重叠设置的第一金属板(1)、第一介质板(2)、第二金属板(3)；所述传感单元包括介质底板(4)，介质底板(4)上设置有两个金属纳米圆柱(5)，其与相邻传感单元相邻的边定义为长边，圆柱轴线与长边平行，且置于介质底板(4)的边缘，所述金属纳米圆柱(5)的长度与传感单元长边的长度一致；所述介质底板(4)与第一介质板(2)的材质相同，第一金属板(1)、第二金属板(3)及金属纳米圆柱(5)的材质相同。
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