[发明专利]基于相位条纹的码相位测量方法有效

专利信息
申请号: 201910035970.8 申请日: 2019-01-15
公开(公告)号: CN109856650B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 王兆瑞;傅圣友;翟宇霄;金声震;艾国祥 申请(专利权)人: 中国科学院国家天文台
主分类号: G01S19/30 分类号: G01S19/30
代理公司: 北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙) 11457 代理人: 李砚明
地址: 100012 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于相位条纹的码相位测量方法,包括:选取接收机射频前端下变频的中频信号,以及跟踪环路进入稳定跟踪状态后的本地复制载波和本地复制码;对所述中频信号和本地复制载波滤除载波和多普勒频移,得到接收输入信号;将本地复制码作为本地输入信号;计算接收输入信号和本地输入信号的互功率谱相位,生成相位条纹;从相位条纹中求取条纹频率,得到所述接收输入信号与本地输入信号的间隔时延,从而得到码相位测量值。
搜索关键词: 基于 相位 条纹 测量方法
【主权项】:
1.一种基于相位条纹的码相位测量方法,包括:步骤1)、选取接收机射频前端下变频的中频信号,以及跟踪环路进入稳定跟踪状态后的本地复制载波和本地复制码;步骤2)、对所述中频信号和本地复制载波滤除载波和多普勒频移,得到接收输入信号;将本地复制码作为本地输入信号;步骤3)、计算接收输入信号和本地输入信号的互功率谱相位,生成相位条纹;步骤4)、从相位条纹中求取条纹频率,得到所述接收输入信号与本地输入信号的间隔时延,从而得到码相位测量值。
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