[发明专利]一种匹配HF/HNO3有效

专利信息
申请号: 201910038378.3 申请日: 2019-01-16
公开(公告)号: CN109860334B 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 王钊;杨洁;郑霈霆;孙海杰;朱佳佳;陈石;冯修;郭瑶;於琳玲;朱思敏 申请(专利权)人: 晶科能源科技(海宁)有限公司;浙江晶科能源有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/223
代理公司: 嘉兴永航专利代理事务所(普通合伙) 33265 代理人: 蔡鼎
地址: 314416 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种磷扩散方法,特别涉及一种匹配HF/HNO3体系选择性刻蚀的高质量磷扩散方法,属于晶体硅太阳能电池技术领域。该方法包括以下步骤:(1)进管;(2)升温至第一温度;(3)氧化;(4)沉积磷源;(5)升温至第二温度,所述第二温度高于所述第一温度;(6)推结,(7)第二次沉积磷源:推结后进行第二次磷源沉积,在所述硅片表面形成第二磷扩散;(8)降温出管。本发明高质量磷扩散方法在降低刻蚀减重的情况下,保证刻蚀区域方阻适中,表面磷掺杂浓度较低。同时,刻蚀区和非刻蚀区台阶降低,有利于后续氮化硅薄膜的钝化。
搜索关键词: 一种 匹配 hf hno base sub
【主权项】:
1.一种匹配HF/HNO3体系选择性刻蚀的高质量磷扩散方法,其特征在于该方法包括以下步骤:(1)进管:将待扩散硅片放入扩散炉管内,(2)升温至第一温度:在氮气气氛条件下,使扩散炉管温度达到设定温度750‑850℃;(3)氧化:往所述扩散炉管内通入氧气,进行氧化,氧化时间为2min‑10min;(4)沉积磷源:氧化后进行第一次沉积磷源,通过控制工艺时间、N‑POCl3流量和O2流量来控制沉积磷源的总量,在所述硅片表面形成第一磷扩散;(5)升温至第二温度,所述第二温度高于所述第一温度:在氮气气氛条件下,使扩散炉管温度达到设定温度870‑930℃;(6)推结:维持步骤(5)的温度,推结30‑60min,(7)第二次沉积磷源:推结后进行第二次磷源沉积,在所述硅片表面形成第二磷扩散;(8)降温出管:退火降温,待扩散炉管温度降温至800±50℃时,将所述硅片从所述扩散炉管内取出,得到磷扩散硅片。
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