[发明专利]一种地价测算方法及系统在审
申请号: | 201910049414.6 | 申请日: | 2019-01-18 |
公开(公告)号: | CN109903077A | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 罗罡辉;李彬;冯小红;游朋;林勇军;赵思凡;周禾;张帆;林栋;张建秋;何海强 | 申请(专利权)人: | 深圳市规划国土发展研究中心 |
主分类号: | G06Q30/02 | 分类号: | G06Q30/02;G06Q50/16 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 唐致明;洪铭福 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种地价测算方法及系统,通过分别计算每块图斑的单项影响因素的功能分,根据每块图斑的单项影响因素的功能分,计算每块图斑的功能分总分,获取待测宗地所覆盖的图斑数量,根据所述待测宗地所覆盖的图斑数量,计算待测宗地的用途功能分,参考标准宗地价格、标准宗地修正系数、标准宗地的用途功能分,测算待测宗地均价,与现有的地价评估方法相比,减少主观判断的成分,对地价的测算结果更加准确,考虑多种影响因素,使地价的测算更加合理。本发明涉及地价测算技术领域。 | ||
搜索关键词: | 图斑 测算 影响因素 用途功能 参考标准 修正系数 主观判断 地价格 覆盖 评估 | ||
【主权项】:
1.一种地价测算方法,其特征在于,其包括:分别计算每块图斑的单项影响因素的功能分;根据每块图斑的单项影响因素的功能分,计算每块图斑的功能分总分;获取待测宗地所覆盖的图斑数量,根据所述待测宗地所覆盖的图斑数量,计算所述待测宗地的第一用途功能分;选取若干块标准宗地,获取所述标准宗地的价格、所述标准宗地的第一各项修正系数,计算所述待测宗地的第二各项修正系数,根据所述标准宗地的价格、所述标准宗地的第一各项修正系数、所述待测宗地的第二各项修正系数测算所述待测宗地均价。
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