[发明专利]毫米波成像双面扫描检测系统

摘要

本发明涉及毫米波成像双面扫描检测系统，其包括架体，作为系统的外壳载体；双面扫描装置，用于带动毫米波收发天线对两个相对平面同时进行连续的二维扫描，以获得待检对象的扫描信息；毫米波收发天线，设置于双面扫描装置，用于发射与接收返回的毫米波；毫米波收发天线包括两对用于扫描各自对应的X‑Z平面的收发天线，分别实现对两个平面的扫描，该两对收发天线，采取背对错位放置；位置反馈装置，用于实时返回所述双面扫描装置运动过程中毫米波收发天线的位置信息；本发明设计合理、结构紧凑且使用方便。

主权项

1.一种毫米波成像双面扫描检测系统， 其特征在于，包括：架体，作为系统的外壳载体；双面扫描装置，用于带动毫米波收发天线对两个相对平面同时进行连续的二维扫描，以同时获得两位待检对象的扫描信息；包括毫米波收发天线，用于发射与接收返回的毫米波；毫米波收发天线包括两对用于扫描各自对应的X‑Z平面的收发天线，分别实现对两个平面的扫描，该两对收发天线，采取背对错位放置；位置反馈装置，用于实时返回所述双面扫描装置运动过程中毫米波收发天线的位置信息；其采用用于获得X‑Z平面二维坐标的增量式光栅反馈系统，增量式光栅反馈系统包括光栅尺、以及对应的光栅传感器；在双面扫描装置的X轴和Z轴上均设置光栅反馈系统；FPGA主控模块，用于控制整个毫米波双面成像扫描检测系统的工作，分别与双面扫描装置和位置反馈装置通信连接；FPGA主控模块包括匹配单元、FPGA芯片、以及USB通信单元；匹配单元，匹配双面扫描装置、位置反馈装置与FPGA主控板之间通信的电平要求、信号要求；FPGA芯片包括扫描控制模块、与位置反馈控制模块；扫描控制模块，完成对双面扫描装置运动过程的控制与电机状态的检测；位置反馈控制模块，完成对光栅装置的驱动与获取光栅系统返回的位置信息，同时实现对双面扫描装置与位置反馈装置进行全闭环控制。