[发明专利]一种测试模式进入方法及系统

摘要

本申请公开了一种测试模式进入方法及系统，其中，所述测试模式进入方法设定了两个测试模式的进入条件，即在模拟单元接收的第一电压和第二电压满足第一预设条件，且所述数字单元接收到预设特征向量时，才使芯片进入测试模式，避免了芯片在正常工作过程中被误触发进入测试模式的情况出现，提高了芯片的工作稳定性。这是因为在芯片正常工作过程中，第一电压的正常取值范围是高于第二电压的正常取值范围的，不可能出现满足第一预设条件的情况；并且即使在第一电压和第二电压满足第一预设条件的情况下，还需要满足数字单元接收到预设特征向量才会使芯片进入测试模式，最大程度上杜绝了芯片在正常工作过程中被误触发的情况。

主权项

1.一种测试模式进入方法，其特征在于，应用于芯片，所述芯片包括模拟单元和数字单元，所述模拟单元接收第一电压和第二电压，所述测试模式进入方法包括：获取所述第一电压和所述第二电压；判断所述第一电压和第二电压是否满足第一预设条件，如果是，则判断所述数字单元是否接收到预设特征向量，若是，则进入测试模式；所述第一预设条件包括：所述第二电压包括多个连续的，且幅值超过所述第一电压的电压脉冲，且在多个所述电压脉冲后持续保持高电平。