[发明专利]一种混合电路中存储器芯片的测试装置有效
| 申请号： | 201910064323.X | 申请日： | 2019-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN109801666B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 李俊玲;沈拉民;颜伟;屈博强 | 申请（专利权）人： | 西安微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G11C29/14 | 分类号： | G11C29/14;G11C29/56 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明一种混合电路中存储器芯片的测试装置，能够同时实现故障定位和诊断；其包括内建自测试电路和总线复用电路；内建自测试电路和总线复用电路设置在主控协议芯片上；内建自测试电路连接总线复用电路的选择信号端口，内建自测试电路通过测试模式控制总线、测试模式地址总线和测试模式数据总线连接总线复用电路；主控协议芯片还包括功能存储器控制器；主控协议芯片的控制总线连接存储器芯片的控制端口，主控协议芯片的数据总线连接存储器芯片的数据端口，主控协议芯片的地址总线连接存储器芯片的地址端口；主控协议芯片的输出数据总线连接存储器芯片的输出数据端口；内建自测试电路和功能存储器控制器通过输出数据总线读取存储器芯片上的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 混合 电路 存储器 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种混合电路中存储器芯片的测试装置，其特征在于，包括内建自测试电路和总线复用电路；所述内建自测试电路和总线复用电路设置在主控协议芯片上；所述内建自测试电路通过测试模式控制总线、测试模式地址总线和测试模式数据总线连接总线复用电路；所述主控协议芯片还包括功能存储器控制器，功能存储器控制器通过功能模式控制总线、功能模式地址总线和功能模式数据总线连接总线复用电路；所述主控协议芯片的控制总线连接存储器芯片的控制端口，主控协议芯片的数据总线连接存储器芯片的数据端口，主控协议芯片的地址总线连接存储器芯片的地址端口；所述主控协议芯片的输出数据总线连接存储器芯片的输出数据端口；所述内建自测试电路和功能存储器控制器通过输出数据总线读取存储器芯片上的数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安微电子技术研究所，未经西安微电子技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910064323.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
