[发明专利]用于自组织锗硅纳米线的测量装置及其制备方法在审
申请号: | 201910065947.3 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN109683027A | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 李海欧;刘赫;徐刚;曹刚;郭光灿;郭国平 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张宇园 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于自组织锗硅纳米线的测量装置及其制备方法,该装置包括:量子点和测量电路;其中,所述测量电路包括谐振腔,且所述谐振腔与所述量子点的栅极耦合。本发明中,量子点通过栅极与谐振腔耦合,与通过源(漏)电极和腔耦合不同,可以通过调节量子点栅极的电势,改变栅极的耦合电容。在实际测量中,整个体系具有更大的可调空间,利于寻找到更加合适的测量范围。 | ||
搜索关键词: | 量子点 测量电路 测量装置 纳米线 谐振腔 自组织 锗硅 制备 谐振腔耦合 实际测量 栅极耦合 耦合电容 耦合 电极 电势 可调 测量 | ||
【主权项】:
1.一种用于自组织锗硅纳米线的测量装置,其特征在于,包括:量子点和测量电路;其中,所述测量电路包括谐振腔,且所述谐振腔与所述量子点的栅极耦合。
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