[发明专利]一种FPGA配置电路CFG的测试系统和测试方法

摘要

本发明公开了一种FPGA配置电路CFG的测试系统和测试方法，测试系统包括中央处理模块、交换机、程控数字电源、码型发生器和CFG测试PCB，CFG测试PCB上设有FPGA测试夹具组、JTAG下载模块、测试FPGA、配置芯片、参考时钟接口和电源接口，待测FPGA芯片设置在FPGA测试夹具组内，测试方法依次包括选定配置控制器、码型发生器向测试FPGA和待测FPGA芯片提供时钟信号、下载测试向量并输出测试bits、待测FPGA芯片下载测试bits进行测试、测试结果与测试信息进行关联并存储；本发明实现对FPGA配置电路CFG性能的全方面、高性能测试，且集成度高，灵活性高，使用方便，通过减少人工测试的干预，减少手动切换和操作的时间，大幅度提高FPGA芯片配置电路CFG的测试效率。

主权项

1.一种FPGA配置电路CFG的测试系统，其特征在于：包括中央处理模块、交换机、程控数字电源、码型发生器和CFG测试PCB，中央处理模块第一通讯端连接交换机第一通讯端，交换机第二通讯端连接CFG测试PCB，交换机第三通讯端连接码型发生器，码型发生器输出端连接CFG测试PCB，交换机第四通讯端连接数字程控电源，数字程控电源为CFG测试PCB供电,中央处理模块第二通讯端连接CFG测试PCB；所述CFG测试PCB上设有FPGA测试夹具组、JTAG下载模块、测试FPGA、配置芯片、参考时钟接口和电源接口，待测FPGA芯片设置在FPGA测试夹具组内；测试FPGA下载输入端通过JTAG下载模块连接中央处理模块输出端，测试PCB测试结果输出端连接中央处理模块输入端，测试FPGA第一通讯端连接FPGA测试夹具组内的待测FPGA芯片，测试FPGA第二通讯端连接配置芯片；所述码型发生器分别向测试FPGA和待测FPGA芯片发送参考时钟信号，所述数字程控电源分别向测试FPGA和待测FPGA芯片供电。